EPVISION 光學(xué)材料/片材表面缺陷視覺(jué)在線檢測(cè)系統(tǒng)

手機(jī)掃描查看

高質(zhì)量的光學(xué)材料，尤其是顯示屏幕制造采用的的材料產(chǎn)品，不允許表面存在任何細(xì)微的缺陷，依靠人工檢測(cè)已經(jīng)無(wú)法滿足工藝和精度要求。基于機(jī)器視覺(jué)技術(shù)原理的EPVISION光學(xué)材料/片材表面缺陷視覺(jué)在線檢測(cè)系統(tǒng)能夠?qū)崟r(shí)、高速掃描每個(gè)產(chǎn)品，形成高分辨率的片材圖像，然后進(jìn)行實(shí)時(shí)的圖像處理，精確捕捉各種表面缺陷，并實(shí)現(xiàn)報(bào)警、報(bào)表統(tǒng)計(jì)、質(zhì)量分析和分揀等處理。 

檢測(cè)對(duì)象：
擴(kuò)散板/擴(kuò)散膜、感光干膜，偏光膜、棱鏡膜、光學(xué)級(jí)導(dǎo)光板、TAC、OPF、3D膜、AR膜、BEF膜、LCP膜、CPI膜等 

檢測(cè)內(nèi)容：
晶點(diǎn)、凝結(jié)點(diǎn)、凹凸點(diǎn)、缺層、劃傷、微刮傷、輥印、折痕、褶皺、涂布條紋、漏涂、黑污點(diǎn)、孔洞 、折痕、褶皺、雜質(zhì)等

主要特點(diǎn)：
* 強(qiáng)大的圖像檢測(cè)功能，針對(duì)透明、光面、粗糙、紋理等各種材料的特點(diǎn)、優(yōu)化相應(yīng)的檢測(cè)算法 
* Blade Light專(zhuān)利光源技術(shù)、更高的光照強(qiáng)度，更精細(xì)化與更顯著地呈現(xiàn)缺陷形態(tài) 
* 融合人工智能分類(lèi)識(shí)別模塊，較老款產(chǎn)品有效提高90%以上的缺陷檢測(cè)效果 
* 標(biāo)準(zhǔn)嵌入式工業(yè)設(shè)計(jì)，標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)口硬件單元，方便隨時(shí)升級(jí)和擴(kuò)展 
* 全幅面實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)視頻監(jiān)控，監(jiān)控和檢測(cè)并行工作 
* 專(zhuān)業(yè)化、本土化的軟件統(tǒng)計(jì)分析功能，提供各種模式的質(zhì)量分析和統(tǒng)計(jì)報(bào)告 
* 標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)接口設(shè)計(jì)，提供貼標(biāo)、噴碼等常用電氣接口信號(hào)